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臺式高精薄膜測厚儀 箔片硅片厚度儀

更新時間:2024-02-24

簡要描述:

DRK203 臺式高精薄膜測厚儀 箔片硅片厚度儀,儀器依據(jù)如下標準制作:GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777。

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DRK203 臺式高精薄膜測厚儀 箔片硅片厚度儀,儀器依據(jù)如下標準制作:GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777。

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DRK203 臺式高精薄膜測厚儀 箔片硅片厚度儀,儀器適用于塑料薄膜、薄片、隔膜、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。

【技術(shù)參數(shù)】

1. 測量范圍:0~3mm
2. 分辨率:0.1μm    精度:1級
3. 測量速度:5次/min(可調(diào));測頭移動速度:3mm/s(可調(diào))

4. 接觸面積:28mm (直徑6mm)  非標可定制

【產(chǎn)品特點】
1. 接觸式測量
2. 測頭自動升降
3. 自動測量模式
4. 數(shù)據(jù)實時顯示、自動統(tǒng)計、打印
5. 顯示最大值、最小值、平均值和統(tǒng)計偏差
6. 標準接觸面積、標定壓強
7. 標準量塊標定測量參數(shù)

8. 數(shù)據(jù)分析功能

山東德瑞克儀器股份有限公司自2004年成立以來始終秉承以技術(shù)創(chuàng)新成就企業(yè)價值的理念,不斷推陳出新。坐落于濟南時代總部基地,內(nèi)設(shè)核心研發(fā)部,長期從事行業(yè)技術(shù)探索創(chuàng)新。同時公司與國內(nèi)外高等院校及科研機構(gòu)保持合作關(guān)系,互利共贏。
公司先后為國內(nèi)外多個省份及地區(qū)提供實驗室解決方案及配套設(shè)備。業(yè)務(wù)范圍涵蓋:科研單位、質(zhì)檢機構(gòu)、大專院校、醫(yī)院、化驗室、防護fu、包裝、造紙、印刷、橡塑、化工、食品、紡織等不同領(lǐng)域。



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