更新時(shí)間:2024-02-28
DRK 真空衰減法無(wú)損檢測(cè)微泄露密封性測(cè)試儀,符合FASTM F2338-09標(biāo)準(zhǔn)和USP40-1207法規(guī)要求,基于雙傳感器技術(shù),雙循環(huán)系統(tǒng)的真空衰減原理將微泄漏密封測(cè)試儀主機(jī)連接到一個(gè)特別設(shè)計(jì)用來(lái)容納需要被測(cè)試包裝物的測(cè)試腔內(nèi),對(duì)測(cè)試腔進(jìn)行抽真空,包裝物內(nèi)外形成壓力差,在壓力的作用下包裝物內(nèi)氣體通過(guò)漏孔擴(kuò)散至測(cè)試腔內(nèi),雙傳感器技術(shù)檢測(cè)時(shí)間和壓力的變化關(guān)系,與標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行比較判斷試樣是否泄漏。
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DRK 真空衰減法無(wú)損檢測(cè)微泄露密封性測(cè)試儀,符合FASTM F2338-09標(biāo)準(zhǔn)和USP40-1207法規(guī)要求,基于雙傳感器技術(shù),雙循環(huán)系統(tǒng)的真空衰減原理將微泄漏密封測(cè)試儀主機(jī)連接到一個(gè)特別設(shè)計(jì)用來(lái)容納需要被測(cè)試包裝物的測(cè)試腔內(nèi),對(duì)測(cè)試腔進(jìn)行抽真空,包裝物內(nèi)外形成壓力差,在壓力的作用下包裝物內(nèi)氣體通過(guò)漏孔擴(kuò)散至測(cè)試腔內(nèi),雙傳感器技術(shù)檢測(cè)時(shí)間和壓力的變化關(guān)系,與標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行比較判斷試樣是否泄漏。
DRK 真空衰減法無(wú)損檢測(cè)微泄露密封性測(cè)試儀,產(chǎn)品優(yōu)缺點(diǎn):
1.測(cè)試便捷快速
2.可溯源
3.可重復(fù)
4.無(wú)損檢測(cè)
5.人為因素小
6.靈敏度高
7.定量測(cè)試
8.更易檢測(cè)更小和泄露點(diǎn)曲折漏孔
9.儀器成本高,精度高
10.zui有效、最直觀、高效的檢漏法,樣品經(jīng)過(guò)檢驗(yàn)后并不會(huì)受到污染,可正常使用。
DRK 真空衰減法微泄露密封性測(cè)試儀,產(chǎn)品參數(shù):
項(xiàng)目 參數(shù)
真空度 0--100kPa
檢測(cè)靈敏度 1-3um
測(cè)試時(shí)間 30s
設(shè)備操作 自帶HM1
內(nèi)部壓力 常壓
測(cè)試系統(tǒng) 雙傳感器技術(shù)
真空來(lái)源 外接真空泵
測(cè)試腔 根據(jù)樣品定做
適用產(chǎn)品 西林瓶、安瓿瓶、預(yù)灌封(及其他合適樣品)
檢測(cè)原理 真空衰減法/無(wú)損檢測(cè)
主機(jī)尺寸 550mmx330mm320mm(長(zhǎng)寬高)
重量 20 Kg
環(huán)境溫度 20℃-30℃
注:因技術(shù)進(jìn)步更改資料,恕不另行通知,產(chǎn)品以后期實(shí)物為準(zhǔn)。
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